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技術(shù)中心

淺談射頻導(dǎo)納物位計(jì)的測(cè)量原理
      射頻導(dǎo)納量測(cè)技術(shù)是具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)的物位量測(cè)技術(shù)。雖然跟一般的電容式量測(cè)技術(shù)的概念很相似，但是射頻導(dǎo)納技術(shù)在電子單元中加入了Driving-Shield電路和斬波電路，因此能夠?qū)崿F(xiàn)阻抗和容抗的單獨(dú)量測(cè)。通過(guò)物理定律計(jì)算可得，任何掛料的阻抗和容抗的大小是相等的，所以由掛料產(chǎn)生的影響能夠被量測(cè)出來(lái)并且通過(guò)振蕩電路的移相，從總的輸出中消除。 
傳統(tǒng)的電容式 物位計(jì) ，隨著物位上漲、材料覆蓋探測(cè)頭，電路中探測(cè)頭和介質(zhì)之間的電容值(導(dǎo)電材料場(chǎng)合)或者探測(cè)頭和管壁之間的電容值(絕緣材料場(chǎng)合)隨之增加。由于物位的變化導(dǎo)致了電容橋的失衡，所以電容值的變化取決于被測(cè)材料的介電常數(shù)。然后通過(guò)對(duì)信號(hào)的檢波、放大，*后輸出相應(yīng)的信號(hào)。然而，電容式物位儀表有一些缺點(diǎn)，特別是當(dāng)探測(cè)頭有掛料的時(shí)候會(huì)嚴(yán)重影響量測(cè)結(jié)果。
射頻導(dǎo)納物位計(jì) 產(chǎn)品的探測(cè)頭安裝在儲(chǔ)料罐中，通過(guò)探測(cè)頭獲得物位變化引起的射頻信號(hào)的變化。探測(cè)頭的Driving-Shield端能夠阻止射頻電流通過(guò)掛料形成回路，保證了儀表量測(cè)的準(zhǔn)確性。
射頻導(dǎo)納技術(shù)量測(cè)結(jié)果精度高，并且不受探測(cè)頭掛料的影響，是目前使用場(chǎng)合*廣泛的一種量測(cè)技術(shù)。從低溫-100℃到高溫800℃、從真空到6.3MPa強(qiáng)壓場(chǎng)合、從超短量程到120米超大量程，都能夠正常應(yīng)用，并且能夠應(yīng)用于不同類型的材料。
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